気系工学専攻　名倉徹准教授、寺尾直樹さん（M2）、飯塚哲也准教授、浅田邦博教授が、IEEE International Test Conference において、Best Paper Award を受賞されました

2017年10月31日、電気系工学専攻　名倉徹准教授、寺尾直樹さん（M2）、飯塚哲也准教授、浅田邦博教授が、IEEE International Test Conference Best Paper Award を受賞されました。
IEEE International Test Conferenceは、集積回路のテストに関する最高峰の学会です。

（左より浅田邦博教授、名倉徹准教授、飯塚哲也准教授、寺尾直樹さん（M2））

＜受賞された研究・活動について＞
車載向け LSI のテストにおいて、良品・不良品を確実に判別するための技術

＜今後の抱負・感想＞

名誉ある賞を受賞し、とても嬉しく思います。

http://www.itctestweek.org/papers/best-paper-awards/