2017年10月31日、電気系工学専攻 名倉徹准教授、寺尾直樹さん(M2)、飯塚哲也准教授、浅田邦博教授が、IEEE International Test Conference Best Paper Award を受賞されました。
IEEE International Test Conferenceは、集積回路のテストに関する最高峰の学会です。
![](https://www.t.u-tokyo.ac.jp/hs-fs/hubfs/Imported_Blog_Media/setnws_201711081459198018877196_839939-1.jpg?width=200&height=247&name=setnws_201711081459198018877196_839939-1.jpg)
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(左より浅田邦博教授、名倉徹准教授、飯塚哲也准教授、寺尾直樹さん(M2))
<受賞された研究・活動について>
車載向け LSI のテストにおいて、良品・不良品を確実に判別するための技術
<今後の抱負・感想>
名誉ある賞を受賞し、とても嬉しく思います。
http://www.itctestweek.org/papers/best-paper-awards/