薄膜中の熱の伝わり方の起源を知る ― 省エネルギーデバイスの熱評価へのブレイクスルー ―

高輝度光科学研究センターの内山裕士研究員、東京大学大学院工学研究科の岩本壮太郎大学院生、塩見淳一郎教授の研究グループは、物質・材料研究機構、ニューサウスウェールズ大学との共同研究により、薄膜のフォノン分散と寿命の同時測定に世界で初めて成功しました。フォノンは熱散逸や熱伝導といった熱の性質に直接関与しています。得られた結果を熱伝導測定や計算と比較することにより、薄膜という実際のデバイスに近い試料環境で、熱特性の微視的なメカニズムを明らかにすることができました。本研究を通じて開発された新たな測定技術により、微小デバイス中のフォノンの詳細測定が可能となり、最先端省エネルギー／創エネルギーデバイス（熱を電気に変換する熱電デバイス、エネルギー浪費の少ない高効率パワー半導体デバイス、次世代太陽電池）での熱特性の評価につながることが期待されます。
本研究成果は米国東部時間の2018年6月7日に、「Physical Review Letters」でオンライン公開されました。

プレスリリース本文：PDFファイル

Physical Review Letters：https://journals.aps.org/prl/abstract/10.1103/PhysRevLett.120.235901

SPringｰ8：http://www.spring8.or.jp/ja/news_publications/press_release/2018/180611/