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2017.11.08

【受賞・表彰等】電気系工学専攻 名倉徹准教授、寺尾直樹さん(M2)、飯塚哲也准教授、浅田邦博教授が、IEEE International Test Conference において、Best Paper Award を受賞されました。

2017年10月31日、電気系工学専攻 名倉徹准教授、寺尾直樹さん(M2)、飯塚哲也准教授、浅田邦博教授が、IEEE International Test Conference Best Paper Award を受賞されました。
IEEE International Test Conferenceは、集積回路のテストに関する最高峰の学会です。


<受賞された研究・活動について>
車載向け LSI のテストにおいて、良品・不良品を確実に判別するための技術

   
(左より浅田邦博教授、名倉徹准教授、飯塚哲也准教授、寺尾直樹さん(M2))

 

<今後の抱負・感想>
名誉ある賞を受賞し、とても嬉しく思います。

http://www.itctestweek.org/papers/best-paper-awards/